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        超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡來源:admin    發布日期:2018-01-19    瀏覽量:

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        儀器型號:SU8010


        儀器廠家:日本日立公司


        主要技術指標:(1)加速電壓:0.1~30 kV

                      (2)觀測倍率:20~1,200,000 

                      (3)二次電子分辨率:1.0nm(加速電壓15kV) 1.3nm(加速電壓1kV)

                      (4)工作距離:0.5~30mm


        應用領域:廣泛應用于物理、化學、生物、地學、礦物、金屬、半導體、陶瓷、高分子、復合材料、納米材料等領域的研究和產品檢驗。


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