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        巖石薄片鑒定來源:武漢中地大環境地質研究院    發布日期:2018-02-06    瀏覽量:

        普通薄片

        用于巖石礦物鑒定,包括礦物成分、含量、結構構造、巖性定名。

        用透射偏光顯微鏡進行觀察

        普通光片

        用于金屬礦物鑒定,包括礦物成分、含量、結構構造、礦石工藝。

        用反射偏光顯微鏡進行觀察

        砂薄片

        用于松散砂樣、選礦精礦-尾礦等,鑒定透明礦物成分,含量等。

        用透射偏光顯微鏡進行觀察

        砂光片

        用于松散砂樣、選礦精礦-尾礦等,鑒定金屬礦物成分,含量,統計解離度等。

        用反射偏光顯微鏡進行觀察

        光薄片

        用于觀察金屬礦物和透明礦物的成分、含量等,以及嵌布特征及相互關系。

        用透反兩用光源

        探針片

        觀察金屬礦物和透明礦物的成分,用于探針測試分析。

        用透射或反射光

        普通包體片

        觀察透明礦物中氣液包裹體的類型,進行包裹體鹽度、溫度的測定。

        用透射偏光顯微鏡進行觀察

        紅外包體片

        觀察不透明礦物中包裹體的類型,進行

        用紅外顯微鏡進行觀察


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